Sapphire熱流型差示掃描量熱儀

簡要描述：采用熱流型設計原理，其結構精致而簡單，操作方便，性能*。對于質量控制和材料研究Z為理想。

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廠商性質：代理商
更新時間：2025-05-05
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物理分析儀器

水分測定儀 3D光學干涉輪廓儀粘附力分析儀在線粒度儀超聲粒度分析儀電聲譜分析儀 Zeta電位儀介電常數測定儀激光粒度儀粘度計流變儀密度計質構儀流體穩定性分析儀折光儀（折射儀）拉力/扭矩天平光色度檢測濁度計差示掃描量熱儀扭矩儀旋光儀粘度計附件其它物性測試儀器

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Sapphire熱流型差示掃描量熱儀

采用熱流型設計原理，其結構精致而簡單，操作方便，性能*。對于質量控制和材料研究zui為理想。可用于測量材料的熔點、玻璃化溫度、結晶度、固化度、純度、比熱、反應動力學、熱穩定性、相轉變溫度等參數。
產品特點
·采用保護的橢圓形量熱傳感器
·爐體堅固耐用，抗腐蝕性強
·DSC基線及其平穩
·具有*的Highway TA熱分析模擬軟件可供選擇
·具有多種冷卻附件可供選擇
·可選配樣品自動進樣器

·溫度范圍：-170--725゜C（樣品實際能夠達到的測試溫度）
·溫度準確度：±0.1゜C
·溫度精度：±0.02゜C
·量熱準確度：± 1%
·量熱精度：±0.5%
·掃描速率：0.01-100゜C/min

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